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PID 效應(yīng)(Potential Induced Degradation)又稱電勢誘導(dǎo)衰減，是電池組件封裝材料和其上表面及下表面的材料，電池片與其接地金屬邊框之間的高電壓作用下出現(xiàn)離子遷移，而造成組件性能衰減的現(xiàn)象。本系統(tǒng)通過長期監(jiān)測其漏電流的情況，確保組件在達(dá)到一定的性能衰減后提出報警，測試出組件的使用壽命水平，使其能保證組網(wǎng)的安全運(yùn)行。PID的測試標(biāo)準(zhǔn)是根據(jù)IEC62804 光伏組件性能測試標(biāo)準(zhǔn)、IEC61215、IEC61730光伏組件安全測試標(biāo)準(zhǔn)結(jié)合而成。
PID 效應(yīng)(Potential Induced Degradation)又稱電勢誘導(dǎo)衰減，是電池組件封裝材料和其上表面及下表面的材料，電池片與其接地金屬邊框之間的高電壓作用下出現(xiàn)離子遷移，而造成組件性能衰減的現(xiàn)象。本系統(tǒng)通過長期監(jiān)測其漏電流的情況，確保組件在達(dá)到一定的性能衰減后提出報警，測試出組件的使用壽命水平，使其能保證組網(wǎng)的安全運(yùn)行。PID的測試標(biāo)準(zhǔn)是根據(jù)IEC62804 光伏組件性能測試標(biāo)準(zhǔn)、IEC61215、IEC61730光伏組件安全測試標(biāo)準(zhǔn)結(jié)合而成。
技術(shù)參數(shù)
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型號 |
ZC1608 |
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系統(tǒng)配置 |
1臺主控計算機(jī)，1~8臺多路電勢差誘導(dǎo)功衰測試儀 (ZC1608)(可選配) |
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| 大可接入路數(shù) |
64路，少選配一臺測試機(jī)(ZC1608)為8路，多選配8臺測試機(jī)(ZC1608，ZC1616，ZC1624，ZC1632)為64路。 |
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老化試驗(yàn)時間 |
0000:00:00~9999:59:59h，可任意設(shè)定，試驗(yàn)時間結(jié)束，自動切斷輸出。 |
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| 實(shí)時監(jiān)控功能 |
8~64路同時監(jiān)測，自動記錄并實(shí)時顯示試驗(yàn)參數(shù)。 |
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故障警告 |
屏幕上狀態(tài)欄顯示故障原因，漏電流報警。 |
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人機(jī)界面 |
外置計算機(jī)，獨(dú)立顯示器 |
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儀器接口 |
LAN |
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直流電壓 |
±2000V |
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電壓分辨率 |
1V |
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大限額電流 |
1mA/ 通道 |
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漏電檢解析度及測量范圍 |
0.01uA~1uA |
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保護(hù)功能 |
過流保護(hù)、過壓保護(hù)、短路保護(hù) |
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