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　　泰克及旗下吉時(shí)利品牌，提供從晶元到系統(tǒng)的專業(yè)半導(dǎo)體測(cè)試方案。包括半導(dǎo)體材料測(cè)試平臺(tái)、半導(dǎo)體工藝測(cè)試平臺(tái)、芯片設(shè)計(jì)測(cè)試平臺(tái)、芯片驗(yàn)證測(cè)試平臺(tái)等。

　　半導(dǎo)體材料測(cè)試平臺(tái)包括：

　　針對(duì)晶元級(jí)半導(dǎo)體材料或半導(dǎo)體器件，泰克提供半導(dǎo)體參數(shù)分析儀（4200A-SCS），用于測(cè)試分離器件、材料的三大特性：1、直流特性，如IV曲線、IT曲線、VT曲線、RT曲線等； 2、電容電壓特性CV曲線（CVU）；3脈沖特性測(cè)試(PMU)，支持超高速脈沖測(cè)試。支持以上特性的多通道同步測(cè)試。

　　針對(duì)高功率半導(dǎo)體材料或半導(dǎo)體器件，泰克提供高功率晶體管參數(shù)曲線圖示儀（2600B-PCT），或稱晶體管曲線追蹤儀，支持高壓、高流等條件下直流特性IV曲線、電容電壓特性CV曲線測(cè)試。

　　半導(dǎo)體工藝測(cè)試平臺(tái)包括：

　　針對(duì)大規(guī)模測(cè)試，如晶元上多點(diǎn)測(cè)試，復(fù)雜系統(tǒng)的自動(dòng)化測(cè)試，泰克提供自動(dòng)化半導(dǎo)體參數(shù)測(cè)試系統(tǒng)（S500/S530/S540），支持各類晶元Wafer和MEMS的自動(dòng)化、半自動(dòng)化參數(shù)測(cè)試。廣泛用于晶元的失效分析測(cè)試（FA）,質(zhì)量控制測(cè)試（QA），可靠性分析測(cè)試（RA）。其中S540支持高壓功率半導(dǎo)體自動(dòng)化參數(shù)測(cè)試。

　　芯片設(shè)計(jì)測(cè)試平臺(tái)包括：

　　針對(duì)高速串行芯片設(shè)計(jì)，泰克提供完整的發(fā)送端測(cè)試解決方案，配備高帶寬實(shí)時(shí)示波器、各種探頭、一致性測(cè)試夾具、一致性測(cè)試軟件等，支持的標(biāo)準(zhǔn)覆蓋各類常用標(biāo)準(zhǔn)，包括：PCIE/DDR/USB/ETH等等。

　　芯片驗(yàn)證測(cè)試平臺(tái)包括：

　　針對(duì)高速串行芯片設(shè)計(jì)，泰克提供完整的接收端容限測(cè)試解決方案，配備高速誤碼率分析儀，及一致性測(cè)試夾具、一致性測(cè)試軟件等，支持的標(biāo)準(zhǔn)覆蓋各類常用標(biāo)準(zhǔn)。